МАИ Дефектоскоп: Поиск дефектов зданий и сооружений при помощи ИИ

Разработана методика синтетических данных в МАИ для обучения нейросети БПЛА считыванию показаний промышленных приборов в рамках умной дефектоскопии.

Источник данных о внедрении — Каталог автономных систем России (АНО «ФЦ БАС»).